Nedo/MaGHEM 開發(fā)的超高效電機(jī)與磁軸承測試平臺(tái)使用 eDrive 測試系統(tǒng)進(jìn)行電氣效率測量。在傳統(tǒng)測試系統(tǒng)中，同步測量是困難的，因?yàn)樗怯门ぞ貍鞲衅?、功率?jì)等多個(gè)測量儀器來完成的。而通過 eDrive 測試系統(tǒng)，不僅所有測量都是同步進(jìn)行的，并且能夠?qū)崟r(shí)計(jì)算和觀測多個(gè)測量參數(shù)和波形，如磁通量和扭矩波形以及多種計(jì)算波形，如鐵損分離等，從而顯著提高測試效率。

由于鐵損分離需要在逆變器在開關(guān)頻率范圍內(nèi)的數(shù)據(jù)，因此高速采樣是必要的。然而傳統(tǒng)的功率計(jì)采樣相對(duì)較慢，無法捕獲用于研究轉(zhuǎn)矩脈動(dòng)或開關(guān)頻率所需的高速區(qū)域數(shù)據(jù)。HBM eDrive 系統(tǒng)可以 2 MS/s 高速采集電壓和電流信號(hào)，且可進(jìn)行半周期功率計(jì)算。（電機(jī)轉(zhuǎn)速高達(dá) 20000 rpm，開關(guān)頻率為20 kHz，對(duì)于高頻分量測量來說，高采樣率是必須的。）

傳統(tǒng)功率計(jì)只能根據(jù)一段時(shí)間內(nèi)平均的計(jì)算結(jié)果進(jìn)行分析，HBM eDrive 系統(tǒng)分析基于采集獲得的所有原始數(shù)據(jù)（瞬時(shí)數(shù)據(jù)），因此分析速度和精度都大大提高。所采用的 1000 V 輸入卡可以直接測量高電壓，使用更方便。另外，無需在時(shí)間軸顯示和FFT顯示之間進(jìn)行切換，可在同一屏幕上檢查輸出。

(*) （*）Nedo/MaGHEM研究人員目前致力于開發(fā)新的高性能磁體，并通過測試來評(píng)測軟磁材料和電機(jī)開發(fā)成果。與傳統(tǒng)電機(jī)相比，新的高效電機(jī)功率損失減少 40%。